Surface mechanical properties of thin polymer films investigated by AFM in pulsed force mode

Atomic force microscopy in the pulsed force mode (PFM) is applied in this work to the study of thin dewetting patterns formed by drying an aqueous solution of poly(N-isopropylacrylamide) (PNIPAM) and sodium dodecyl sulfate (SDS) on mica. This technique allows the automated acquisition of typically 4...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1992. - 25(2009), 17 vom: 01. Sept., Seite 9938-46
1. Verfasser: Rezende, Camila A (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Lee, Lay-Theng, Galembeck, Fernando
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2009
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
Schlagworte:Journal Article