We have used synchrotron X-ray reflectivity measurements to investigate the structure of n-dotriacontane (n-C(32)H(66) or C32) films deposited from the vapor phase onto a SiO(2)-coated Si(100) surface. Our primary motivation was to determine whether the structure and growth mode of these films diffe...
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1992. - 25(2009), 22 vom: 17. Nov., Seite 12962-7
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| 1. Verfasser: |
del Campo, Valeria
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Cisternas, Edgardo,
Taub, Haskell,
Vergara, Ignacio,
Corrales, Tomás,
Soza, Pamela,
Volkmann, Ulrich G,
Bai, Mengjun,
Wang, Siao-Kwan,
Hansen, Flemming Y,
Mo, Haiding,
Ehrlich, Steven N |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2009
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
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| Schlagworte: | Journal Article |
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