Determination of X-ray flux using silicon pin diodes
Accurate measurement of photon flux from an X-ray source, a parameter required to calculate the dose absorbed by the sample, is not yet routinely available at macromolecular crystallography beamlines. The development of a model for determining the photon flux incident on pin diodes is described here...
Ausführliche Beschreibung
Bibliographische Detailangaben
| Veröffentlicht in: | Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 16(2009), Pt 2 vom: 13. März, Seite 143-51
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| 1. Verfasser: |
Owen, Robin L
(VerfasserIn) |
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| Weitere Verfasser: |
Holton, James M,
Schulze-Briese, Clemens,
Garman, Elspeth F |
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| Format: | Online-Aufsatz
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| Sprache: | English |
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| Veröffentlicht: |
2009
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Journal of synchrotron radiation
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| Schlagworte: | Evaluation Study
Journal Article
Research Support, N.I.H., Extramural
Research Support, U.S. Gov't, Non-P.H.S.
Validation Study
Silicon
Z4152N8IUI |
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