Electrochemical aspects and structure characterization of VA-VIA compound semiconductor Bi2Te3/Sb2Te3 superlattice thin films via electrochemical atomic layer epitaxy

This paper concerns the electrochemical atom-by-atom growth of VA-VIA compound semiconductor thin film superlattice structures using electrochemical atomic layer epitaxy. The combination of the Bi2Te3 and Sb2Te3 programs and Bi2Te3/Sb2Te3 thin film superlattice with 18 periods, where each period inv...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1992. - 24(2008), 11 vom: 03. Juni, Seite 5919-24
1. Verfasser: Zhu, Wen (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Yang, Jun-You, Zhou, Dong-Xiang, Xiao, Chen-Jin, Duan, Xin-Kai
Format: Online-Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2008
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
Schlagworte:Journal Article Research Support, Non-U.S. Gov't Membranes, Artificial