A conical slit for three-dimensional XRD mapping

Traditionally, depth resolution in diffraction experiments is obtained by inserting pinholes in both the incoming and diffracted beam. For materials science investigations of local strain and texture properties this leads to very slow data-acquisition rates, especially when characterization is perfo...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 7(2000), Pt 2 vom: 01. März, Seite 103-9
1. Verfasser:	Nielsen, S F (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Wolf, A, Poulsen, H F, Ohler, M, Lienert, U, Owen, R A
Format:	Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2000
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:	Journal Article