Ellipsometric search for vapor layers at liquid-hydrophobic solid surfaces

We use precision ellipsometry to evaluate the existence of nanometer thick vapor films at the surface between a liquid and a hydrophobic alkylsilane coated Si wafer. We find no evidence for such vapor films. All of our fluid-solid ellipsometry measurements can be explained using a double layer model...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1985. - 22(2006), 4 vom: 14. Feb., Seite 1715-21
1. Verfasser:	Takata, Y (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Cho, J-H J, Law, B M, Aratono, M
Format:	Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2006
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
Schlagworte:	Journal Article