Pulsed laser deposition chamber for in situ X-ray diffraction

A sample chamber has been constructed for studying the growth of thin films by pulsed laser deposition in situ with surface X-ray diffraction. The achievable temperature ranges from room temperature to 1073 K in a controlled oxygen environment. The partial pressure of the oxygen background gas cover...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of synchrotron radiation. - 1998. - 12(2005), Pt 6 vom: 22. Nov., Seite 833-4
1. Verfasser: Vonk, Vedran (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Konings, Stan, Barthe, Laurent, Gorges, Bernard, Graafsma, Heinz
Format: Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2005
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:Journal Article