Thickness-dependent molecular chain and lamellar crystal orientation in ultrathin poly(di-n-hexylsilane) films

The molecular chain and lamellar crystal orientation in ultrathin films (thickness < 100 nm) of poly-(di-n-hexylsilane) (PDHS) on silicon wafer substrates have been investigated by using transmission electronic microscopy, wide-angle X-ray diffraction, atomic force microscopy, and UV absorption s...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1992. - 20(2004), 8 vom: 13. Apr., Seite 3271-7
1. Verfasser:	Hu, Zhijun (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Huang, Haiying, Zhang, Fajun, Du, Binyang, He, Tianbai
Format:	Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2004
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
Schlagworte:	Journal Article