Control of moisture at buried polymer/alumina interfaces through substrate surface modification

Moisture absorption in poly(4-tert-butoxycarbonyloxystyrene) (PBOCSt) films supported on Al(2)O(3) sputter coated silicon wafers is measured using neutron and X-ray reflectivity. Accumulation of water at the interface during moisture exposure results in an apparent film-thickness-dependent swelling...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids. - 1985. - 21(2005), 6 vom: 15. März, Seite 2460-4
1. Verfasser:	Vogt, Bryan D (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Prabhu, Vivek M, Soles, Christopher L, Satija, Sushil K, Lin, Eric K, Wu, Wen-li
Format:	Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2005
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
Schlagworte:	Journal Article