Effective escape depth of photoelectrons for hydrocarbon films in total electron yield measurement as C K-edge

Effective escape depth of photoelectrons for hydrocarbon films in total electron yield measurement as C K-edge

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 6(1999), Pt 3 vom: 01. Mai, Seite 803-4
1. Verfasser: Ohara, H (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Yamamoto, Y, Kajikawa, K, Ishii, H, Seki, K, Ouchi, Y
Format: Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 1999
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:Journal Article
Beschreibung
Beschreibung:Date Completed 16.05.2005
Date Revised 20.07.2004
published: Print-Electronic
Citation Status PubMed-not-MEDLINE
ISSN:1600-5775