XAFS study on D+ irradiated Si surface

XAFS study on D+ irradiated Si surface

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of synchrotron radiation. - 1998. - 6(1999), Pt 3 vom: 01. Mai, Seite 734-6
1. Verfasser: Yoshida, T (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Yoshida, H, Hara, T, Sakai, M, Omori, A, Tanabe, T
Format: Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 1999
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:Journal Article