Nitrogen K-edge EXAFS measurements on Mg- and Si-doped GaN

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of synchrotron radiation. - 1998. - 6(1999), Pt 3 vom: 01. Mai, Seite 555-7
1. Verfasser:	Katsikini, M (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Moustakas, T D, Paloura, E C
Format:	Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	1999
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:	Journal Article