EXAFS measurements for liquid Ge-Si alloys

EXAFS measurements around the Ge-K edge have been carried out for liquid Ge-Si alloys for the first time to investigate the local structure around a Ge atom. To perform the EXAFS measurements for the liquid alloys with high melting temperatures, a new sapphire cell have been developed. The measureme...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 8(2001), Pt 2 vom: 01. März, Seite 767-9
1. Verfasser:	Inui, M (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Matsusaka, T, Ishikawa, D, Sakaguchi, Y, Hong, X, Kazi, M H, Tamura, K
Format:	Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2001
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:	Journal Article