Determining crystalline atomic positions using XAFS, a new addition to the UWXAFS analysis package

XAFS and x-ray diffraction (XRD) are complementary structure determination techniques. The combination of XAFS and XRD can be used to determine the complete crystal structure when diffraction can not be refined. This is often the case at high pressures or high temperatures where there is limited acc...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 8(2001), Pt 2 vom: 01. März, Seite 311-3
1. Verfasser:	Kelly, S D (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Stern, E A, Ingalls, R
Format:	Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2001
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:	Journal Article Research Support, U.S. Gov't, Non-P.H.S. Research Support, U.S. Gov't, P.H.S.