Use of highly energetic (116 keV) synchrotron radiation for X-ray fluorescence analysis of trace rare-earth and heavy elements

This study has revealed the advantages of the use of 116 keV X-rays as an excitation source of X-ray fluorescence (XRF) analyses. This technique is suitable for nondestructive multielemental analyses of heavy elements such as rare-earth elements. The lowest MDL value evaluated for the bulk analysis...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of synchrotron radiation. - 1994. - 8(2001), 4 vom: 01. Juli, Seite 1078-81
1. Verfasser: Nakai, I (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Terada, Y, Itou, M, Sakurai, Y
Format: Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 2001
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Journal of synchrotron radiation
Schlagworte:Journal Article Metals, Rare Earth Trace Elements