Measuring diffusion in thin films by dissociative electron attachment : O2 in Kr

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter. - 1985. - 48(1993), 8 vom: 15. Aug., Seite 5540-5548
1. Verfasser:	Sanche (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Bass, Parenteau, Gortel
Format:	Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	1993
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Physical review. B, Condensed matter
Schlagworte:	Journal Article