Optical-bias effects in electron-drift measurements and defect relaxation in a-Si:H

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B, Condensed matter. - 1985. - 48(1993), 12 vom: 15. Sept., Seite 8658-8666
1. Verfasser: Han (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Melcher, Schiff, Silver
Format: Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 1993
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Physical review. B, Condensed matter
Schlagworte:Journal Article