Layer-by-layer etching of Si(100)-2 x 1 with Br2 A scanning-tunneling-microscopy study

Layer-by-layer etching of Si(100)-2 x 1 with Br2 : A scanning-tunneling-microscopy study

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B, Condensed matter. - 1985. - 47(1993), 19 vom: 15. Mai, Seite 13035-13038
1. Verfasser: Chander (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Li, Patrin, Weaver
Format: Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 1993
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Physical review. B, Condensed matter
Schlagworte:Journal Article