Evidence for structural relaxation in measurements of hydrogen diffusion in rf-sputtered boron-doped a-Si:H
| Veröffentlicht in: | Physical review. B, Condensed matter. - 1985. - 42(1990), 10 vom: 01. Okt., Seite 6746-6749 |
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| Format: | Aufsatz |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
1990
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Physical review. B, Condensed matter |
| Schlagworte: | Journal Article |