Measurement of the occupation lengths of channeled 17-MeV electrons and 54-MeV electrons and positrons in silicon by means of channeling radiation
| Veröffentlicht in: | Physical review. B, Condensed matter. - 1985. - 40(1989), 7 vom: 01. Sept., Seite 4249-4263 |
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| Weitere Verfasser: | , , , , |
| Format: | Aufsatz |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
1989
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Physical review. B, Condensed matter |
| Schlagworte: | Journal Article |