Measurement of hot-electron scattering processes at Au/Si(100) Schottky interfaces by temperature-dependent ballistic-electron-emission microscopy
| Veröffentlicht in: | Physical review. B, Condensed matter. - 1985. - 53(1996), 7 vom: 15. Feb., Seite 3952-3959 |
|---|---|
| 1. Verfasser: | |
| Weitere Verfasser: | , , , |
| Format: | Aufsatz |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
1996
|
| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Physical review. B, Condensed matter |
| Schlagworte: | Journal Article |