Boundary-structure determination of Ag/Si(111) interfaces by x-ray diffraction

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B, Condensed matter. - 1985. - 52(1995), 3 vom: 15. Juli, Seite 1839-1847
1. Verfasser: Aburano (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Hong, Roesler, Chung, Lin, Zschack, Chen, Chiang
Format: Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 1995
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Physical review. B, Condensed matter
Schlagworte:Journal Article