Electron-paramagnetic-resonance study of the microscopic structure of the Si(001)-SiO2 interface

Electron-paramagnetic-resonance study of the microscopic structure of the Si(001)-SiO2 interface

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B, Condensed matter. - 1985. - 52(1995), 16 vom: 15. Okt., Seite 11599-11602
1. Verfasser: Cantin (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Schoisswohl, von Bardeleben HJ, Hadj Zoubir N, Vergnat
Format: Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 1995
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Physical review. B, Condensed matter
Schlagworte:Journal Article