Direct mapping of the CoSi2/Si(111) interface by ballistic-electron-emission microscopy and modulation spectroscopy

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B, Condensed matter. - 1985. - 50(1994), 19 vom: 15. Nov., Seite 14714-14717
1. Verfasser: Lee (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Sirringhaus, von Känel H
Format: Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 1994
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Physical review. B, Condensed matter
Schlagworte:Journal Article