Correlated-interfacial-roughness anisotropy in Si1-xGex/Si superlattices

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter. - 1985. - 50(1994), 19 vom: 15. Nov., Seite 14435-14445
1. Verfasser:	Phang (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Teichert, Lagally, Peticolos, Bean, Kasper
Format:	Aufsatz
Sprache:	English
Veröffentlicht:	1994
Zugriff auf das übergeordnete Werk:	Physical review. B, Condensed matter
Schlagworte:	Journal Article