Structure of the 0.767-eV oxygen-carbon luminescence defect in 450 degreesC thermally annealed Czochralski-grown silicon

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. B, Condensed matter. - 1985. - 39(1989), 18 vom: 15. Juni, Seite 13327-13337
1. Verfasser: Kürner (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Sauer, Dörnen, Thonke
Format: Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 1989
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Physical review. B, Condensed matter
Schlagworte:Journal Article