Determination of the atomic structure of the epitaxial CoSi2:Si(111) interface using high-resolution Rutherford backscattering
| Veröffentlicht in: | Physical review. B, Condensed matter. - 1985. - 37(1988), 11 vom: 15. Apr., Seite 6305-6310 |
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| 1. Verfasser: | |
| Weitere Verfasser: | , |
| Format: | Aufsatz |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
1988
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| Zugriff auf das übergeordnete Werk: | Physical review. B, Condensed matter |
| Schlagworte: | Journal Article |