Multiple-charged secondary-ion emission from silicon and silicon oxide bombarded by heavy ions at energies of 0.4-10 MeV

Multiple-charged secondary-ion emission from silicon and silicon oxide bombarded by heavy ions at energies of 0.4-10 MeV

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review. A, Atomic, molecular, and optical physics. - 1990. - 51(1995), 1 vom: 01. Jan., Seite 554-560
1. Verfasser: Kyoh (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Takakuwa, Sakura, Umezawa, Itoh, Imanishi
Format: Aufsatz
Sprache:English
Veröffentlicht: 1995
Zugriff auf das übergeordnete Werk:Physical review. A, Atomic, molecular, and optical physics
Schlagworte:Journal Article
Beschreibung
Beschreibung:Date Revised 30.09.2020
published: Print
Citation Status PubMed-not-MEDLINE
ISSN:1050-2947