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    Treatment of multiple-beam X-ray diffraction in energy-dependent measurements
    Treatment of multiple-beam X-ray diffraction in energy-dependent measurements
    von Nentwich, Melanie
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2024)
    Weitere Verfasser: “...Weigel, Tina...”

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    Sample chamber for synchrotron based in-situ X-ray diffraction experiments under electric fields and temperatures between 100 K and 1250 K
    Sample chamber for synchrotron based in-situ X-ray diffraction experiments under electric fields and temperatures between 100 K and 1250 K
    von Nentwich, Melanie
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2021)
    Weitere Verfasser: “...Weigel, Tina...”

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  3. 3
    X-ray diffraction using focused-ion-beam-prepared single crystals
    X-ray diffraction using focused-ion-beam-prepared single crystals
    von Weigel, Tina
    Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2020)

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Journal Article X-ray diffraction Renninger effect data processing electric field focused ion beams instrumentation multiple-beam X-ray diffraction resonant elastic X-ray scattering sample environment sample preparation
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