Résultat(s) 1 - 6 résultats de 6 pour la requête 'Van Vaerenbergh, Pierre', Temps de recherche: 0,19s Affiner les résultats
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    BEATS BEAmline for synchrotron X-ray microTomography at SESAME
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  2. 2
    Performance of the time-resolved ultra-small-angle X-ray scattering beamline with the Extremely Brilliant Source
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    TEXS in-vacuum tender X-ray emission spectrometer with 11 Johansson crystal analyzers
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  4. 4
    Development of a crystal collimation system for high-resolution ultra-small-angle X-ray scattering applications
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    A multipurpose instrument for time-resolved ultra-small-angle and coherent X-ray scattering
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    Optimization of a Bonse-Hart instrument by suppressing surface parasitic scattering
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