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Oxidation-induced three-dimensional morphological changes in Ni nanoparticles observed by coherent X-ray diffraction imaging
par
Ahn, Kangwoo
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2021)
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,
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2
Characterizing the intrinsic properties of individual XFEL pulses via single-particle diffraction
par
Lee, Heemin
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2020)
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Sung
,
Daeho
...
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NiO
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beam profile
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