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1
In situ synchrotron X-ray diffraction analysis of deformation behaviour in Ti-Ni-based thin films
von
Wang, Hong
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2015)
Weitere Verfasser:
“
...
Sheng
,
Liusi
...
”
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2
Performance of the atomic and molecular physics beamline at the National Synchrotron Radiation Laboratory
von
Wang, Sisheng
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2006)
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“
...
Sheng
,
Liusi
...
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Research Support, Non-U.S. Gov't
Ti–Ni
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