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GIDVis a comprehensive software tool for geometry-independent grazing-incidence X-ray diffraction data analysis and pole-figure calculations
par
Schrode
,
Benedikt
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2019)
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Indexing grazing-incidence X-ray diffraction patterns of thin films lattices of higher symmetry
par
Simbrunner, Josef
Publié dans:
Journal of applied crystallography
(2019)
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...
Schrode
,
Benedikt
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