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Investigation of structural and reflective characteristics of short-period Mo/B4C multilayer X-ray mirrors
par
Shaposhnikov, Roman
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2024)
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Optical constants of sputtered beryllium thin films determined from photoabsorption measurements in the spectral range 20.4-250 eV
par
Svechnikov, Mikhail
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2020)
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