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    Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction
    Weitere Verfasser: “...Myronov, Maksym...”
    Aufsatz

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    Characterization of SiGe thin films using a laboratory X-ray instrument
    Weitere Verfasser: “...Myronov, Maksym...”
    Aufsatz

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