Résultat(s) 1 - 2 résultats de 2 pour la requête 'Muir, David', Temps de recherche: 0,11s Affiner les résultats
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    The lower energy diffraction and scattering side-bounce beamline for materials science at the Canadian Light Source
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    Optimizing and characterizing grating efficiency for a soft X-ray emission spectrometer
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