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Kim, Youngtaek
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Measuring and Explaining the Inter-Cluster Reliability of Multidimensional Projections
par
Jeon, Hyeon
Publié dans:
IEEE transactions on visualization and computer graphics
(2022)
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...
Kim
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Githru Visual Analytics for Understanding Software Development History Through Git Metadata Analysis
par
Kim
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Youngtaek
Publié dans:
IEEE transactions on visualization and computer graphics
(2021)
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