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Hard X-ray single-shot spectrometer of PAL-XFEL
von
Kim
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Sangsoo
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2025)
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2
Statistical analysis of hard X-ray radiation at the PAL-XFEL facility performed by Hanbury Brown and Twiss interferometry
von
Kim, Young Yong
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2022)
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