Résultat(s)
1 - 3
résultats de
3
pour la requête '
Kang, Sung Jin
'
Aller au contenu
VuFind
Panier
(Plein)
Aide
de
fr
Tous les champs
Titre
Auteur
Sujet
Cote
ISBN/ISSN
Tag
Rechercher
Recherche avancée
Auteur
Kang, Sung Jin
Résultat(s)
1 - 3
résultats de
3
pour la requête '
Kang, Sung Jin
'
, Temps de recherche: 0,11s
Affiner les résultats
Trier
Pertinence
Date (décroissante)
Date (croissante)
Auteur
Titre
1
Unraveling the Origin and Mechanism of Nanofilament Formation in Polycrystalline SrTiO3 Resistive Switching Memories
par
Kwon, Deok-Hwang
Publié dans:
Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
(2019)
Autres auteurs:
“
...
Kang
,
Sung
Jin
...
”
Article en ligne
Ajouter au panier
Retirer du panier
2
Interface Control of Ferroelectricity in an SrRuO3 /BaTiO3 /SrRuO3 Capacitor and its Critical Thickness
par
Shin, Yeong Jae
Publié dans:
Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
(2017)
Autres auteurs:
“
...
Kang
,
Sung
-
Jin
...
”
Article en ligne
Ajouter au panier
Retirer du panier
3
Origin of leakage paths driven by electric fields in Al-doped TiO2 films
par
Park, Gyeong-Su
Publié dans:
Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)
(2014)
Autres auteurs:
“
...
Kang
,
Sung
Jin
...
”
Article en ligne
Ajouter au panier
Retirer du panier
Outils de recherche:
S'abonner aux flux RSS
—
Envoyer cette recherche par courriel
Sujets similaires
Journal Article
15FIX9V2JP
7UI0TKC3U5
Al-doped TiO2
Aluminum
BaTiO3
CPD4NFA903
D1JT611TNE
Oxides
Ru-doped TiO2
Ruthenium
Titanium
bandgap reduction
ferroelectric critical thickness
ferroelectricity
high-k
interface engineering
leakage current
memristors
nanofilaments
resistive switching
titanium dioxide
transmission electron microscopy (TEM)
Chargement en cours...