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Jonah, Emmanuel O
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Investigation of nanoparticulate silicon as printed layers using scanning electron microscopy, transmission electron microscopy, X-ray absorption spectroscopy and X-ray photoelectr...
par
Unuigbe, David M
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2017)
Autres auteurs:
“
...
Jonah
,
Emmanuel
O
...
”
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Investigation of surface topology of printed nanoparticle layers using wide-angle low-Q scattering
par
Jonah
,
Emmanuel
O
Publié dans:
Journal of synchrotron radiation
(2014)
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