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    Investigation of nanoparticulate silicon as printed layers using scanning electron microscopy, transmission electron microscopy, X-ray absorption spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy
    von Unuigbe, David M
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2017)
    Weitere Verfasser: “...Jonah, Emmanuel O...”

    Online-Aufsatz

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    Investigation of surface topology of printed nanoparticle layers using wide-angle low-Q scattering
    von Jonah, Emmanuel O
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2014)

    Online-Aufsatz

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