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  1. 1
    A synchrotron X-ray diffraction deconvolution method for the measurement of residual stress in thermal barrier coatings as a function of depth
    von Li, C
    Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2016)
    Weitere Verfasser: “...Jacques, S D M...”
    Aufsatz

  2. 2
    The new materials processing beamline at the SRS Daresbury, MPW6.2
    von Cernik, R J
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2004)
    Weitere Verfasser: “...Jacques, S D M...”
    Aufsatz

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