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  1. 1
    Local strain and defects in silicon wafers due to nanoindentation revealed by full-field X-ray microdiffraction imaging
    von Li, Z J
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2015)
    Weitere Verfasser: “...Helfen, L...”

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  2. 2
    Comparative study of multilayers used in monochromators for synchrotron-based coherent hard X-ray imaging
    von Rack, A
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2010)
    Weitere Verfasser: “...Helfen, L...”

    Online-Aufsatz

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