Résultat(s) 1 - 4 résultats de 4 pour la requête 'Erk, Benjamin', Temps de recherche: 2,56s Affiner les résultats
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    High-resolution electron time-of-flight spectrometers for angle-resolved measurements at the SQS Instrument at the European XFEL
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    Time-resolved ion imaging at free-electron lasers using TimepixCam
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    XUV double-pulses with femtosecond to 650 ps separation from a multilayer-mirror-based split-and-delay unit at FLASH
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    CAMPFLASH an end-station for imaging, electron- and ion-spectroscopy, and pump-probe experiments at the FLASH free-electron laser

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