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1
Fabrication and testing of a newly designed slit system for depth-resolved X-ray diffraction measurements
von
Sinsheimer, John
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2016)
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,
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2
X-ray nanoscale profiling of layer-by-layer assembled metal/organophosphonate films
von
Libera, Joseph A
Veröffentlicht in:
Langmuir : the ACS journal of surfaces and colloids
(2004)
Weitere Verfasser:
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...
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