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High-resolution imaging of organic and inorganic nanoparticles at nanometre-scale resolution by X-ray ensemble diffraction microscopy
von
Chen, Ning Jung
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2025)
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2
Oversampling smoothness an effective algorithm for phase retrieval of noisy diffraction intensities
von
Rodriguez, Jose A
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2013)
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3
Coherent diffraction microscopy at SPring-8 instrumentation, data acquisition and data analysis
von
Xu, Rui
Veröffentlicht in:
Journal of synchrotron radiation
(2011)
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