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$Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction$

Characterization of dislocations in germanium layers grown on (011)- and (111)-oriented silicon by coplanar and noncoplanar X-ray diffraction

von Benediktovitch, Andrei
Veröffentlicht in: Journal of applied crystallography (2015)
Schlagworte: “...misc noncoplanar X-ray diffraction...”

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