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time of flight
POWGEN
1
TOF SANS
1
WANS
1
angular- and wavelength-dispersive Rietveld refinement
1
electronic focusing
1
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instrument commissioning
1
instrumental resolution
1
interfaces
1
ion-conducting polymer membranes
1
neutron diffraction
1
neutron powder diffraction
1
neutron reflectometry
1
pinhole SANS
1
powder methods
1
profile shape functions
1
small-angle neutron scattering
1
small-angle neutron scattering (SANS)
1
surfaces
1
wavelength spread
1
wide-angle neutron scattering
1
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1
Electronic angle focusing for neutron time-of-flight powder diffractometers
von
Von Dreele, Robert B
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2024)
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2
Extended Q-range small-angle neutron scattering to understand the morphology of proton-exchange membranes the case of the functionalized syndiotactic-polystyrene model system
von
Schiavone, Maria-Maddalena
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2023)
Online-Aufsatz
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3
Spatz the time-of-flight neutron reflectometer with vertical sample geometry at the OPAL research reactor
von
Le Brun, Anton P
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2023)
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4
Instrumental resolution as a function of scattering angle and wavelength as exemplified for the POWGEN instrument
von
Jacobs, Philipp
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2017)
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5
Tuning the instrument resolution using chopper and time of flight at the small-angle neutron scattering diffractometer KWS-2
von
Radulescu, Aurel
Veröffentlicht in:
Journal of applied crystallography
(2015)
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