Treffer 1 - 1 von 1 für Suche '' Weiter zum Inhalt
VuFind
  • Merkliste (Voll)
  • Hilfe
  • de
  • fr
Erweitert
Ähnliche Schlagwörter: sample monitoring system
Bestand: DHI Paris
Filter anzeigen (2)
Ähnliche Schlagwörter: sample monitoring system
Bestand: DHI Paris
  • Suchergebnisse
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche. Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
Journal Article 1 Research Support, Non-U.S. Gov't 1 hard X-ray photoemission 1 linear dichroism 1 low-temperature double-axis manipulator 1 micro-focused X-rays 1 phase retarder 1 mehr ... sample monitoring system strongly correlated electron systems 1 weniger ...
Treffer 1 - 1 von 1 für Suche '', Suchdauer: 4,40s Treffer weiter einschränken
  1. 1
    Polarized hard X-ray photoemission system with micro-positioning technique for probing ground-state symmetry of strongly correlated materials
    Polarized hard X-ray photoemission system with micro-positioning technique for probing ground-state symmetry of strongly correlated materials
    von Fujiwara, Hidenori
    Veröffentlicht in: Journal of synchrotron radiation (2016)

    Online-Aufsatz
    Auf die Merkliste Aus der Merkliste entfernen
Suchwerkzeuge: RSS-Feed abonnieren — Diese Suche als E-Mail versenden

Suche einschränken

Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Wird geladen... Ladevorgang abgebrochen
Deutsches Historisches Institut Paris
Hôtel Duret-de-Chevry
8 rue du Parc-Royal
75003 Paris
Tel.
+33 1 44542380
Fax
+33 1 42715643
E-Mail
info@dhi-paris.fr

Das DHIP ist Teil der

Folgen Sie uns!

  • twitter
  • facebook
  • youtube
  • rss
  • email
  • Bibliothek
  • OPAC
  • Impressum
  • Datenschutz
© 2021 DHIP IHA
Wird geladen...