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  1. 1
    The Electrical Behaviors of Grain Boundaries in Polycrystalline Optoelectronic Materials

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  2. 2
    Laue microdiffraction on polycrystalline samples above 1500 K achieved with the QMAX-µLaue furnace

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  3. 3
    The dependence of X-ray elastic constants with respect to the penetration depth

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  4. 4
    Energy-dispersive X-ray stress analysis under geometric constraints exploiting the material's inherent anisotropy

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  5. 5
    In situ synchrotron X-ray multimodal experiment to study polycrystal plasticity

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  6. 6
    Determination and mitigation of the uncertainty of neutron diffraction measurements of residual strain in large-grained polycrystalline material
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